IEC 62368-1附錄V可觸及零部件測(cè)試試具

EC62368-1:2020音頻、視頻、信息和通信技術(shù)設(shè)備可觸及零部件

Figure V.1兒童可觸及設(shè)備鉸接式試驗(yàn)試具

Figure V.1直式非鉸接試指

Figure V.2 兒童不可觸及設(shè)備鉸接試驗(yàn)指

Figure V.2 直式無(wú)關(guān)節(jié)試指

Figure V.3 鈍頭試具

Figure V.4 楔形試具

Figure V.5 端子試具

通過(guò)使用適用的圖V.1或圖V.2直的無(wú)關(guān)節(jié)的試驗(yàn)試具來(lái)進(jìn)行試驗(yàn)，施加30N±3N的力，短時(shí)間保持大約5S

用直的非鉸接式試具試驗(yàn)開孔

V.1.3試驗(yàn)方法2 用直的非鉸接式試具試驗(yàn)開孔

對(duì)能阻止圖V.1或圖V.2的適用的鉸接式試具接觸零部件的開孔要再用直的非鉸接式的相關(guān)試驗(yàn)試具，施加30N的力來(lái)進(jìn)行試驗(yàn)。如果非鉸接式試具進(jìn)入開孔，則要重復(fù)進(jìn)行試驗(yàn)方法1的試驗(yàn)，但要使用任何所需要的不大于30N的力，將相關(guān)的鉸接式試驗(yàn)試具推入開孔。